Virtual Slit for Improved Resolution in Longitudinal Emittance Measurement

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	Virtual Slit for Improved Resolution in Longitudinal Emittance Measurement
	K.J. Ruisard; A.V. Aleksandrov; A.P. Shishlo
	2020
会议（录）名称	9th International Beam Instrumentation Conference 2020
会议日期	2020
会议地点	Brazil
INSPIRE ID	1840659
引用统计	被引频次：0 [INSPIRE]
文献类型	会议论文
条目标识符	https://ir.ihep.ac.cn/handle/311005/288502
专题	学术会议_国际参会_JaCoW高能所参会会议_IBIC
作者单位	ORNL, Oak Ridge, Tennessee, USA
推荐引用方式 GB/T 7714	K.J. Ruisard,A.V. Aleksandrov,A.P. Shishlo. Virtual Slit for Improved Resolution in Longitudinal Emittance Measurement[C],2020.

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文件名称/大小	文献类型	版本类型	开放类型	使用许可

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