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High Repetition-Rate Electro-optic Sampling: Recent Studies Using Photonic Time-Stretch
S.Bielawski; M.Le Parquier
会议(录)名称Proceedings of the 6th International Beam Instrumentation Conference
会议日期2017
会议地点Michigan, USA
文献类型会议论文
条目标识符https://ir.ihep.ac.cn/handle/311005/266049
专题学术会议_国际参会_JaCoW高能所参会会议_IBIC
作者单位PhLAM/CERCLA, Villeneuve d'Ascq Cedex, France
推荐引用方式
GB/T 7714
S.Bielawski,M.Le Parquier. High Repetition-Rate Electro-optic Sampling: Recent Studies Using Photonic Time-Stretch[C].
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