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Monolithic pixel detectors in a deep submicron SOI process
Grzegorz Deptuch
2009
会议(录)名称The 1st international conference on Technology and Instrumentation in Particle Physics
会议日期2009
会议地点Japan
INSPIRE ID842364
ADS Bibcode2010NIMPA.623..183D
引用统计
被引频次:3 [INSPIRE]
被引频次:1 [ADS]
文献类型会议论文
条目标识符https://ir.ihep.ac.cn/handle/311005/263424
专题学术会议_国际参会_JaCoW高能所参会会议_TIPP
作者单位Fermilab, PO BOX 500, MS 222, Batavia, IL 60510-5011, USA
推荐引用方式
GB/T 7714
Grzegorz Deptuch. Monolithic pixel detectors in a deep submicron SOI process[C],2009.
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