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MEASUREMENT TECHNIQUES TO CHARACTERIZE INSTABILITIES CAUSED BY ELECTRON CLOUDS
M.G.Billing; G.Dugan; M.J.Forster; R.E.Meller; M.A.Palmer; G.Ramirez; J.P.Sikora; H.A.Williams
2011
会议(录)名称Proceedings of 2011 Particle Accelerator Conference, New York, NY, USA
页码1852--1854
会议日期2011
会议地点New York
INSPIRE ID1187064
引用统计
被引频次:3 [INSPIRE]
文献类型会议论文
条目标识符https://ir.ihep.ac.cn/handle/311005/243524
专题学术会议_国际参会_JaCoW高能所参会会议_NA-PAC
作者单位CLASSE, Ithaca, New York, USA
推荐引用方式
GB/T 7714
M.G.Billing,G.Dugan,M.J.Forster,et al. MEASUREMENT TECHNIQUES TO CHARACTERIZE INSTABILITIES CAUSED BY ELECTRON CLOUDS[C],2011:1852--1854.
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