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Rapid roughening of Mo2C film surface
Zheng, RL; Ran, YQ; Chen, H; Ping, RG; Ping RG(平荣刚)
2000
发表期刊ACTA PHYSICA SINICA
卷号49期号:7页码:1335-1343
通讯作者SW China Normal Univ, Dept Phys, Chongqing 400715, Peoples R China ; Chinese Acad Sci, Inst High Energy Phys, Beijing 100039, Peoples R China
文章类型Article
摘要The roughness of Mo2C film surface is measured and the results are given. By introduction of crystalline boundary correction,the rapid roughening phenomenon is explained theoretically.
关键词Mo2C thin film rapid roughening roughness exponent
学科领域Physics
研究领域[WOS]Physics ; Physics
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语种英语
研究领域[WOS]Physics ; Physics
WOS类目Physics, Multidisciplinary
WOS记录号WOS:000088125500025
引用统计
被引频次:1[WOS]   [WOS记录]     [WOS相关记录]
文献类型期刊论文
条目标识符http://ir.ihep.ac.cn/handle/311005/239288
专题实验物理中心
加速器中心
作者单位中国科学院高能物理研究所
推荐引用方式
GB/T 7714
Zheng, RL,Ran, YQ,Chen, H,et al. Rapid roughening of Mo2C film surface[J]. ACTA PHYSICA SINICA,2000,49(7):1335-1343.
APA Zheng, RL,Ran, YQ,Chen, H,Ping, RG,&平荣刚.(2000).Rapid roughening of Mo2C film surface.ACTA PHYSICA SINICA,49(7),1335-1343.
MLA Zheng, RL,et al."Rapid roughening of Mo2C film surface".ACTA PHYSICA SINICA 49.7(2000):1335-1343.
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