Rapid roughening of Mo2C film surface
Zheng, RL; Ran, YQ; Chen, H; Ping, RG; Ping RG(平荣刚)
刊名ACTA PHYSICA SINICA
2000
卷号49期号:7页码:1335-1343
关键词Mo2C thin film rapid roughening roughness exponent
学科分类Physics
通讯作者SW China Normal Univ, Dept Phys, Chongqing 400715, Peoples R China ; Chinese Acad Sci, Inst High Energy Phys, Beijing 100039, Peoples R China
文章类型Article
英文摘要The roughness of Mo2C film surface is measured and the results are given. By introduction of crystalline boundary correction,the rapid roughening phenomenon is explained theoretically.
类目[WOS]Physics, Multidisciplinary
研究领域[WOS]Physics
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语种英语
WOS记录号WOS:000088125500025
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文献类型期刊论文
条目标识符http://ir.ihep.ac.cn/handle/311005/239288
专题中国科学院高能物理研究所_实验物理中心_期刊论文
中国科学院高能物理研究所_实验物理中心
中国科学院高能物理研究所_加速器中心
作者单位中国科学院高能物理研究所
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GB/T 7714
Zheng, RL,Ran, YQ,Chen, H,et al. Rapid roughening of Mo2C film surface[J]. ACTA PHYSICA SINICA,2000,49(7):1335-1343.
APA Zheng, RL,Ran, YQ,Chen, H,Ping, RG,&平荣刚.(2000).Rapid roughening of Mo2C film surface.ACTA PHYSICA SINICA,49(7),1335-1343.
MLA Zheng, RL,et al."Rapid roughening of Mo2C film surface".ACTA PHYSICA SINICA 49.7(2000):1335-1343.
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