| 聚硅氧烷基纳米多孔薄膜双分形结构的同步辐射小角X射线散射分析 |
其他题名 | Two Fractal Structural Analysis of Polysiloxane Nanoporous Thin Films by Synchrotron Radiation Small Angle X-ray Scattering
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| 高芳亮; 陈宏基; 吴忠华 ; 李志宏
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| 2011
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发表期刊 | 理化检验(物理分册)
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期号 | 3页码:133-136+171 |
其他摘要 | 以聚硅氧烷基材料为预聚体,采用两种核壳型致孔剂,以旋涂工艺分别制备两组聚硅氧烷基纳米多孔薄膜,采用北京同步辐射装置(BSRF)光源进行了小角X射线散射测试,在掠入射模式(入射角iα=0.2°)下得到了两组不同孔隙率纳米多孔薄膜的二维散射数据,在此基础上分析了薄膜的分形特征,发现所制备的薄膜除试样A1外,均存在双分形结构,辅以场发射扫描电子显微镜(FESEM)观测,证实微孔为产生散射的主体。 |
关键词 | 纳米多孔薄膜
同步辐射小角X射线散射
分形结构
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文献类型 | 期刊论文
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条目标识符 | http://ir.ihep.ac.cn/handle/311005/222894
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专题 | 多学科研究中心
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推荐引用方式 GB/T 7714 |
高芳亮,陈宏基,吴忠华,等. 聚硅氧烷基纳米多孔薄膜双分形结构的同步辐射小角X射线散射分析[J]. 理化检验(物理分册),2011(3):133-136+171.
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APA |
高芳亮,陈宏基,吴忠华,&李志宏.(2011).聚硅氧烷基纳米多孔薄膜双分形结构的同步辐射小角X射线散射分析.理化检验(物理分册)(3),133-136+171.
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MLA |
高芳亮,et al."聚硅氧烷基纳米多孔薄膜双分形结构的同步辐射小角X射线散射分析".理化检验(物理分册) .3(2011):133-136+171.
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