| 用X射线衍射法测定氮化镓马赛克结构中的面内扭转角(英文) |
| 其他题名 | Twist Angle of Mosaic Structure in GaN Films Determined by X-ray Diffraction
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| 苏月永; 陈志涛; 徐科; 郭立平; 潘尧波; 杨学林; 杨志坚; 张国义
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| 2006
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| 发表期刊 | 发光学报
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| 期号 | 4页码:514-518 |
| 关键词 | 氮化镓
马赛克结构
扭曲角
掠入射X射线衍射
X射线衍射
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| 项目资助者 | 国家自然科学基金资助项目(60376005,60577030)~~
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| 文献类型 | 期刊论文
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| 条目标识符 | https://ir.ihep.ac.cn/handle/311005/222388
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| 专题 | 多学科研究中心
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推荐引用方式
GB/T 7714 |
苏月永,陈志涛,徐科,等. 用X射线衍射法测定氮化镓马赛克结构中的面内扭转角(英文)[J]. 发光学报,2006(4):514-518.
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| APA |
苏月永.,陈志涛.,徐科.,郭立平.,潘尧波.,...&张国义.(2006).用X射线衍射法测定氮化镓马赛克结构中的面内扭转角(英文).发光学报(4),514-518.
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| MLA |
苏月永,et al."用X射线衍射法测定氮化镓马赛克结构中的面内扭转角(英文)".发光学报 .4(2006):514-518.
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