掠入射荧光XAFS研究Pt超薄膜的局域结构
谢治; 谢亚宁; 刘涛; 胡天斗; 闫文盛; 韦世强
刊名核技术
2004
期号2页码:87-90
关键词荧光X射线吸收精细结构 Pt超薄膜 掠入射
其他题名LOCAL STRUCTURES OF Pt THIN FILMS STUDIED BY GRAZING INCIDENCE FLUORESCENCE XAFS
中文摘要利用荧光 X 射线吸收精细结构(XAFS)技术研究了厚度为 3—105 nm 范围的分子束外延生长的 Pt 金属薄膜的局域结构。结果表明,30 nm 和 105 nm Pt 薄膜的 XAFS 结果与多晶 Pt 箔的相似,在径向结构函数图中的 2.61、3.80、4.63、5.43 ? 处出现第一、二、三和四配位壳层的配位峰,保持着 Pt 金属的面心立方结构特征。30 nm Pt 薄膜样品的结构参数:配位数 N=11.9,键长 R=2.77 ?,无序度σ2=0.0055 ?2。3 nm 和 10 nmPt 超薄膜的径向结构函数曲线中的第一配位峰形状与 105 nm Pt 厚膜的相似,但强度明显降...
项目资助者国家自然科学基金(10174068)资助
文献类型期刊论文
条目标识符http://ir.ihep.ac.cn/handle/311005/222160
专题中国科学院高能物理研究所_多学科研究中心_期刊论文
中国科学院高能物理研究所_多学科研究中心
推荐引用方式
GB/T 7714
谢治,谢亚宁,刘涛,等. 掠入射荧光XAFS研究Pt超薄膜的局域结构[J]. 核技术,2004(2):87-90.
APA 谢治,谢亚宁,刘涛,胡天斗,闫文盛,&韦世强.(2004).掠入射荧光XAFS研究Pt超薄膜的局域结构.核技术(2),87-90.
MLA 谢治,et al."掠入射荧光XAFS研究Pt超薄膜的局域结构".核技术 .2(2004):87-90.
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