| 掠入射荧光XAFS研究Pt超薄膜的局域结构 |
| 其他题名 | LOCAL STRUCTURES OF Pt THIN FILMS STUDIED BY GRAZING INCIDENCE FLUORESCENCE XAFS
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| 谢治; 谢亚宁 ; 刘涛; 胡天斗; 闫文盛; 韦世强
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| 2004
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| 发表期刊 | 核技术
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| 期号 | 2页码:87-90 |
| 其他摘要 | 利用荧光 X 射线吸收精细结构（XAFS）技术研究了厚度为 3—105 nm 范围的分子束外延生长的 Pt 金属薄膜的局域结构。结果表明，30 nm 和 105 nm Pt 薄膜的 XAFS 结果与多晶 Pt 箔的相似，在径向结构函数图中的 2.61、3.80、4.63、5.43 ? 处出现第一、二、三和四配位壳层的配位峰，保持着 Pt 金属的面心立方结构特征。30 nm Pt 薄膜样品的结构参数：配位数 N＝11.9，键长 R＝2.77 ?，无序度σ2＝0.0055 ?2。3 nm 和 10 nmPt 超薄膜的径向结构函数曲线中的第一配位峰形状与 105 nm Pt 厚膜的相似，但强度明显降... |
| 关键词 | 荧光X射线吸收精细结构
Pt超薄膜
掠入射
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| 项目资助者 | 国家自然科学基金(10174068)资助
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| 文献类型 | 期刊论文
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| 条目标识符 | http://ir.ihep.ac.cn/handle/311005/222160
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| 专题 | 多学科研究中心
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推荐引用方式
GB/T 7714 |
谢治,谢亚宁,刘涛,等. 掠入射荧光XAFS研究Pt超薄膜的局域结构[J]. 核技术,2004(2):87-90.
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| APA |
谢治,谢亚宁,刘涛,胡天斗,闫文盛,&韦世强.(2004).掠入射荧光XAFS研究Pt超薄膜的局域结构.核技术(2),87-90.
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| MLA |
谢治,et al."掠入射荧光XAFS研究Pt超薄膜的局域结构".核技术 .2(2004):87-90.
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