| 汝瓷成分的线扫描分析 |
| 其他题名 | Line scan analysis of the component of Ru porcelain by SRXRF method
|
| 朱剑; 毛振伟; 杨益民; 冯敏; 王昌燧; 孙新民; 郭木森; 黄宇营; 何伟
|
| 2002
|
| 发表期刊 | 核技术
|
| 期号 | 10页码:853-858 |
| 关键词 | SRXRF
汝瓷
线扫描分析
中间层
|
| 项目资助者 | 国家自然科学重点基金 (10 135 0 5 0 )
; 中国科学院知识创新工程 (KJCX -No .4 )资助
|
| 文献类型 | 期刊论文
|
| 条目标识符 | https://ir.ihep.ac.cn/handle/311005/221929
|
| 专题 | 多学科研究中心
|
推荐引用方式
GB/T 7714 |
朱剑,毛振伟,杨益民,等. 汝瓷成分的线扫描分析[J]. 核技术,2002(10):853-858.
|
| APA |
朱剑.,毛振伟.,杨益民.,冯敏.,王昌燧.,...&何伟.(2002).汝瓷成分的线扫描分析.核技术(10),853-858.
|
| MLA |
朱剑,et al."汝瓷成分的线扫描分析".核技术 .10(2002):853-858.
|
除非特别说明，本系统中所有内容都受版权保护，并保留所有权利。
修改评论