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汝瓷成分的线扫描分析
其他题名Line scan analysis of the component of Ru porcelain by SRXRF method
朱剑; 毛振伟; 杨益民; 冯敏; 王昌燧; 孙新民; 郭木森; 黄宇营; 何伟
2002
发表期刊核技术
期号10页码:853-858
其他摘要用SRXRF技术对汝瓷断面从釉到胎进行了十一种元素含量的线扫描分析 ,结果表明 :在汝瓷胎、釉之间的确存在一个元素含量与两者相差很大的中间层。我们认为这是汝瓷在烧制过程中 ,瓷釉在形成玻璃态的同时渗入了瓷胎表面而形成的 ,这个中间层在实体光学显微镜上能明显看出而在偏光显微镜和扫描电镜下看不到。此工作不仅有助于研究汝瓷的结构和烧造工艺 ,也将有利于SRXRF无损分析技术在考古领域的运用
关键词SRXRF 汝瓷 线扫描分析 中间层
项目资助者国家自然科学重点基金 (10 135 0 5 0 ) ; 中国科学院知识创新工程 (KJCX -No .4 )资助
文献类型期刊论文
条目标识符http://ir.ihep.ac.cn/handle/311005/221929
专题多学科研究中心
推荐引用方式
GB/T 7714
朱剑,毛振伟,杨益民,等. 汝瓷成分的线扫描分析[J]. 核技术,2002(10):853-858.
APA 朱剑.,毛振伟.,杨益民.,冯敏.,王昌燧.,...&何伟.(2002).汝瓷成分的线扫描分析.核技术(10),853-858.
MLA 朱剑,et al."汝瓷成分的线扫描分析".核技术 .10(2002):853-858.
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