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地下暗物质实验中的高速采样ADC模块设计与研究
其他题名The Design of High Speed ADC Module of the Under Ground Dark Matter Experiment
邹剑雄; 刘振安; 赵豫斌; 江晓山; 胡俊; 李捷
2013
发表期刊核电子学与探测技术
期号5页码:535-539
通讯作者邹剑雄
其他摘要简要介绍用于地下暗物质实验的高速采样ADC模块的设计与测试。主要介绍了电路结构,FPGA逻辑结构以及ADC性能测试方法,包括随机噪声、积分非线性(INL)、微分非线性(DNL)、信噪比、信号噪声失真比、有效位等。最后给出了系统级的初步调试结果。
关键词地下暗物质实验 高速采样ADC ADC性能测试 现场可编程门阵列
文献类型期刊论文
条目标识符http://ir.ihep.ac.cn/handle/311005/219802
专题实验物理中心
推荐引用方式
GB/T 7714
邹剑雄,刘振安,赵豫斌,等. 地下暗物质实验中的高速采样ADC模块设计与研究[J]. 核电子学与探测技术,2013(5):535-539.
APA 邹剑雄,刘振安,赵豫斌,江晓山,胡俊,&李捷.(2013).地下暗物质实验中的高速采样ADC模块设计与研究.核电子学与探测技术(5),535-539.
MLA 邹剑雄,et al."地下暗物质实验中的高速采样ADC模块设计与研究".核电子学与探测技术 .5(2013):535-539.
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