用NaI(Tl)γ谱仪测定地层铀系、钍系和钾—40γ照射量率的逆矩阵法

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	用NaI(Tl)γ谱仪测定地层铀系、钍系和钾—40γ照射量率的逆矩阵法
其他题名	A INVERSE MATRIX METHOD FOR MEASURING INDIVIDUAL EXPOSURE RATE FROM 238U SERIES, 232TH SERIES AND 40K OF ENVIRONMENTAL GAMMA RADIATION BY A 100 X 100 NAI(TI) γ SPECTROMETER
	汤月里; 朱国义; 岳忠厚; 董振甲
	1985
发表期刊	辐射防护
期号	6 页码:422-427
通讯作者	汤月里
关键词	逆矩阵法 NaI(Tl)γ谱仪模型源环境γ辐射测定
文献类型	期刊论文
条目标识符	https://ir.ihep.ac.cn/handle/311005/217852
专题	加速器中心
推荐引用方式 GB/T 7714	汤月里,朱国义,岳忠厚,等. 用NaI(Tl)γ谱仪测定地层铀系、钍系和钾—40γ照射量率的逆矩阵法[J]. 辐射防护,1985(6):422-427.
APA	汤月里,朱国义,岳忠厚,&董振甲.(1985).用NaI(Tl)γ谱仪测定地层铀系、钍系和钾—40γ照射量率的逆矩阵法.辐射防护(6),422-427.
MLA	汤月里,et al."用NaI(Tl)γ谱仪测定地层铀系、钍系和钾—40γ照射量率的逆矩阵法".辐射防护 .6(1985):422-427.