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一种高精度长程光学表面面形检测仪 专利
专利类型: 审中, 专利号: CN104019762A, 申请日期: 2014-06-10, 公开日期: 2014-09-03
Inventors:  李明;  杨福桂;  王秋实;  盛伟繁;  刘鹏
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探测器像素响应非均匀误差校正装置及其校正的方法 专利
专利类型: 审中, 专利号: CN103983571A, 申请日期: 2014-04-14, 公开日期: 2014-08-13
Inventors:  杨福桂;  李明;  盛伟繁
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测量颗粒粒径分布的方法及装置 专利
专利类型: 审中, 专利号: CN103983546A, 申请日期: 2014-03-31, 公开日期: 2014-08-13
Inventors:  杨福桂;  王秋实;  李明;  盛伟繁
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一种高精度高空间分辨长程面形检测系统 专利
专利类型: 审中, 专利号: CN103278106A, 申请日期: 2013-05-16, 公开日期: 2013-09-04
Inventors:  杨福桂;  李明;  盛伟繁;  刘鹏
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一种高精度长程面形检测系统及检测方法 专利
专利类型: 审中, 专利号: CN103292728A, 申请日期: 2013-05-16, 公开日期: 2013-09-11
Inventors:  杨福桂;  李明;  刘鹏;  盛伟繁
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