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β~+-γ符合正电子湮没寿命谱仪的研制 期刊论文
核技术, 2000, 期号: 4, 页码: 227-230
Authors:  王宝义;  魏龙;  张天保;  张水合;  马创新;  王天民
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正电子寿命  β~+-γ符合  时间分辨率  
TiAl金属间化合物的淬火缺陷研究 期刊论文
核技术, 1998, 期号: 4, 页码: 217-221
Authors:  王宝义;  张水合;  常晶;  王天民
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TiAl  淬火缺陷  等时退火  正电子寿命