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Si(Li)谱仪测量X射线荧光谱中CrK_β谱线化学位移的探索 期刊论文
光谱学与光谱分析, 1998, 期号: 1, 页码: 98-100
Authors:  彭良强;  魏成连;  刘亚雯;  张天保;  吴强
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化学位移  X射线荧光  Si（Li）谱仪  
掠射技术与X射线荧光分析 期刊论文
光谱学与光谱分析, 1998, 期号: 5, 页码: 609-6014
Authors:  刘亚雯;  肖辉
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掠射  X射线荧光分析  
硅中掺杂元素砷的三维微分析 期刊论文
光谱学与光谱分析, 1997, 期号: 4, 页码: 96-104
Authors:  刘亚雯;  范钦敏;  吴应荣;  魏成连;  肖辉
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同步辐射  全反射  三维分布  
Depth profiling of iron impurities on GaAs surfaces using total reflection X-ray fluorescence 期刊论文
FRESENIUS JOURNAL OF ANALYTICAL CHEMISTRY, 1996, 卷号: 354, 期号: 2, 页码: #REF!
Authors:  Fan QM(范钦敏);  Liu YW(刘亚雯);  Wei CL(魏诚林);  Fan, QM;  Liu, YW;  Wei, CL
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X-ray fluorescence analysis of the silver content of ancient Chinese silverware 期刊论文
X-RAY SPECTROMETRY, 1996, 卷号: 25, 期号: 3, 页码: #REF!
Authors:  Wei CL(魏成连);  Fan QM(范钦敏);  Liu YW(刘亚雯);  Wei, CL;  Fan, QM;  Liu, YW;  Li, DL
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同步辐射单色光全反射XRF实验 期刊论文
光谱学与光谱分析, 1996, 期号: 4, 页码: 75-80
Authors:  潘巨祥;  吴应荣;  肖延安;  巢志瑜;  洪蓉;  刘亚雯;  吴强
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同步辐射  全反射  X－射线荧光分析  痕量分析  
同步辐射白光全反射XRF在痕量元素检测的初步应用研究 期刊论文
分析测试学报, 1996, 期号: 1, 页码: 6--21
Authors:  吴应荣;  潘巨祥;  肖延安;  巢志瑜;  洪蓉;  刘亚雯;  吴强
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同步辐射  全反射  X射线荧光分析  痕量分析  
用XRF微探针研究掺杂元素锗在单晶硅中的分布 期刊论文
光谱学与光谱分析, 1995, 期号: 2, 页码: 99-103
Authors:  吴强;  刘亚雯;  魏成连;  袁汉章
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同步辐射  X射线微荧光分析  杂质分布  
用同步辐射XRF和基本参数法分析 期刊论文
核技术, 1995, 期号: 4, 页码: 224-226
Authors:  吴强;  刘亚雯;  魏成连
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基本参数法  同步辐射  X射线荧光分析  
半导体硅材料中掺杂元素锗的SRXRF微区分析研究 期刊论文
分析试验室, 1994, 期号: 3, 页码: 77-80
Authors:  闻莺;  袁汉章;  朱腾;  刘亚雯
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同步辐射X荧光分析  半导体硅  掺杂元素  锗  微区分析