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Studies on surface roughness and growth mechanisms of microcrystalline silicon films by grazing incidence X-ray reflectivity 期刊论文
ACTA PHYSICA SINICA, 2007, 卷号: 56, 期号: 4, 页码: 2422-2427
Authors:  Zhou, BQ;  Liu, FZ;  Zhu, MF;  Zhou, YQ;  Wu, ZH;  Chen, X;  Wu ZH(吴忠华);  Chen X(陈兴)
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grazing incidence X-ray reflectivity  microcrystalline silicon film  surface roughness  growth mechanism  
微晶硅薄膜的表面粗糙度及其生长机制的X射线掠角反射研究 期刊论文
物理学报, 2007, 期号: 4, 页码: 2422-2427
Authors:  周炳卿;  刘丰珍;  朱美芳;  周玉琴;  吴忠华;  陈兴
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X射线掠角反射  微晶硅薄膜  表面粗糙度  生长机制  
利用x射线小角散射技术研究微晶硅薄膜的微结构 期刊论文
物理学报, 2005, 期号: 5, 页码: 2172-2175
Authors:  周炳卿;  刘丰珍;  朱美芳;  谷锦华;  周玉琴;  刘金龙;  董宝中;  李国华;  丁琨
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微晶硅薄膜  微结构  微空洞  x射线小角散射  
用小角x光散射研究超临界流体抗溶剂过程中聚苯乙烯链尺寸和构象变化 期刊论文
北京联合大学学报, 2000, 期号: 4, 页码: 53-55
Authors:  霍清;  李丹;  刘志敏;  韩布兴;  董宝中;  吴中华
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超临界二氧化碳  聚苯乙烯(PS)  抗溶剂法(SAS)  小角x光散射(SAXS)  
高氢稀释制备微晶硅薄膜微结构的研究 期刊论文
物理学报, 1998, 期号: 9, 页码: 89-94
Authors:  郭晓旭;  朱美芳;  刘金龙;  韩一琴;  许怀哲;  董宝中;  生文君;  韩和相
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微晶硅薄膜  薄膜微结构  晶化过程  稀释度  晶态  微空洞  衬底温度  红外谱  散射强度  小角