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PROPOSED SCATTERED ELECTRON DETECTOR SYSTEM AS ONE OF THE BEAM OVERLAP DIAGNOSTIC TOOLS FOR THE NEW RHIC ELECTRON LENS 会议论文
Proceedings of 2011 Particle Accelerator Conference, New York, NY, USA, New York, 2011
作者:  P. Thieberger;  E.N. Beebe;  C. Chasman;  W. Fischer;  D.M. Gassner;  X. Gu;  R.C. Gupta;  J. Hock;  R.F. Lambiase;  Y. Luo;  M.G. Minty;  C. Montag;  M. Okamura;  A.I. Pikin;  Y. Tan;  J.E. Tuozzolo;  W. Zhang
Adobe PDF(420Kb)  |  收藏  |  浏览/下载：180/4  INSPIRE被引：[2]  |  提交时间：2016/07/05
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