IHEP OpenIR  > 学术会议  > 国际参会  > JaCoW高能所参会会议  > TIPP
A 4-channel waveform sampling ASIC in 0.13 μm CMOS for front-end readout of large-area micro-channel plate detectors
E. Oberla
2011
会议名称Proceedings of the 2nd International Conference on Technology and Instrumentation in Particle Physics (TIPP 2011) ; Proceedings of the 2nd International Conference on Technology and Instrumentation in Particle Physics (TIPP 2011)
会议日期2011
会议地点Chicago, IL, USA
会议名称Proceedings of the 2nd International Conference on Technology and Instrumentation in Particle Physics (TIPP 2011) ; Proceedings of the 2nd International Conference on Technology and Instrumentation in Particle Physics (TIPP 2011)
文献类型会议论文
条目标识符http://ir.ihep.ac.cn/handle/311005/263774
专题学术会议_国际参会_JaCoW高能所参会会议_TIPP
作者单位Enrico Fermi Institute, University of Chicago, 5640 S. Ellis Ave, Chicago IL, 60637
推荐引用方式
GB/T 7714
E. Oberla. A 4-channel waveform sampling ASIC in 0.13 μm CMOS for front-end readout of large-area micro-channel plate detectors[C],2011.
条目包含的文件
文件名称/大小 文献类型 版本类型 开放类型 使用许可
208.pdf(471KB)会议论文 开放获取CC BY-NC-SA浏览 请求全文
个性服务
推荐该条目
保存到收藏夹
查看访问统计
导出为Endnote文件
谷歌学术
谷歌学术中相似的文章
[E. Oberla]的文章
百度学术
百度学术中相似的文章
[E. Oberla]的文章
必应学术
必应学术中相似的文章
[E. Oberla]的文章
相关权益政策
暂无数据
收藏/分享
文件名: 208.pdf
格式: Adobe PDF
所有评论 (0)
暂无评论
 

除非特别说明,本系统中所有内容都受版权保护,并保留所有权利。