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X-ray microscopy using reflection targets based on SEM with tungsten filament
Liu, J., Y. Ma, W. Zhao, G. Niu, M. Chu, B. Yin, L. Han and B. Liu; Liu BD(刘宝东)
刊名SPIE Proceedings
2016
期号9685页码:96850I-96850I-96856
DOI10.1117/12.2241728
文章类型期刊论文
WOS记录号WOS:000387429600018
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文献类型期刊论文
条目标识符http://ir.ihep.ac.cn/handle/311005/260521
专题核技术应用研究中心_期刊论文
作者单位中国科学院高能物理研究所
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GB/T 7714
Liu, J., Y. Ma, W. Zhao, G. Niu, M. Chu, B. Yin, L. Han and B. Liu,Liu BD. X-ray microscopy using reflection targets based on SEM with tungsten filament[J]. SPIE Proceedings,2016(9685):96850I-96850I-96856.
APA Liu, J., Y. Ma, W. Zhao, G. Niu, M. Chu, B. Yin, L. Han and B. Liu,&刘宝东.(2016).X-ray microscopy using reflection targets based on SEM with tungsten filament.SPIE Proceedings(9685),96850I-96850I-96856.
MLA Liu, J., Y. Ma, W. Zhao, G. Niu, M. Chu, B. Yin, L. Han and B. Liu,et al."X-ray microscopy using reflection targets based on SEM with tungsten filament".SPIE Proceedings .9685(2016):96850I-96850I-96856.
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