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Measurement of d-spacing of crystalline samples with SAXS
Wei YR(魏彦茹); Li ZH(李志宏); Wei, YR; Li, ZH
2016
发表期刊MEASUREMENT
卷号93页码:473-479
通讯作者李志宏
文章类型期刊论文
摘要A method for measuring the d-spacing on scale of nanometers of a crystalline sample with a standard small angle X-ray scattering (SAXS) setup by moving either the sample or detector, instead of directly measuring sample-to-detector distance is presented. The formulae of the d-spacing and its errors are derived. The error variation is analyzed in detail by simulation. The effectiveness of the method is further verified by the experiments on a standard sample. (C) 2016 Elsevier Ltd. All rights reserved.
关键词Crystal d-Spacing SAXS Moving the sample Moving the detector
DOI10.1016/j.measurement.2016.07.051
语种英语
WOS类目Engineering, Multidisciplinary ; Instruments & Instrumentation
WOS记录号WOS:000386869600056
引用统计
被引频次:1[WOS]   [WOS记录]     [WOS相关记录]
文献类型期刊论文
条目标识符http://ir.ihep.ac.cn/handle/311005/260343
专题多学科研究中心
作者单位中国科学院高能物理研究所
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GB/T 7714
Wei YR,Li ZH,Wei, YR,et al. Measurement of d-spacing of crystalline samples with SAXS[J]. MEASUREMENT,2016,93:473-479.
APA 魏彦茹,李志宏,Wei, YR,&Li, ZH.(2016).Measurement of d-spacing of crystalline samples with SAXS.MEASUREMENT,93,473-479.
MLA 魏彦茹,et al."Measurement of d-spacing of crystalline samples with SAXS".MEASUREMENT 93(2016):473-479.
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