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Homogeneity characterization of lattice spacing of28Si single crystals
Waseda, A.1; Fujimoto, H.1; Zhang XW(张小威); Zhang, X.W.2; Kuramoto, N.1; Fujii, K.1
2016
发表期刊CPEM 2016 - Conference on Precision Electromagnetic Measurements, Conference Digest
文章类型期刊论文
DOI10.1109/CPEM.2016.7540582
语种英语
WOS记录号WOS:000383955100131
引用统计
文献类型期刊论文
条目标识符http://ir.ihep.ac.cn/handle/311005/260323
专题多学科研究中心
作者单位1.National Research Institute of Japan (NMIJ), AIST, 1-1-1 Umezono, Tsukuba, Ibaraki
2.305-8563, Japan
3.中国科学院高能物理研究所
推荐引用方式
GB/T 7714
Waseda, A.,Fujimoto, H.,Zhang XW,et al. Homogeneity characterization of lattice spacing of28Si single crystals[J]. CPEM 2016 - Conference on Precision Electromagnetic Measurements, Conference Digest,2016.
APA Waseda, A.,Fujimoto, H.,张小威,Zhang, X.W.,Kuramoto, N.,&Fujii, K..(2016).Homogeneity characterization of lattice spacing of28Si single crystals.CPEM 2016 - Conference on Precision Electromagnetic Measurements, Conference Digest.
MLA Waseda, A.,et al."Homogeneity characterization of lattice spacing of28Si single crystals".CPEM 2016 - Conference on Precision Electromagnetic Measurements, Conference Digest (2016).
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