Calibration of instrument and sample parameters for small angle X-ray scattering
Wei YR(魏彦茹); Li ZH(李志宏); Wei, YR; Li, ZH
刊名INSTRUMENTATION SCIENCE & TECHNOLOGY
2016
卷号44期号:5页码:521-536
关键词Detector tilt instrument parameters small angle X-ray scattering small angle X-ray scattering calibration
DOI10.1080/10739149.2016.1143838
通讯作者李志宏
文章类型期刊论文
英文摘要A method for calibrating the parameters of a small angle X-ray scattering instrument using the diffraction ring of a standard sample is presented. A generalized geometric model for small angle X-ray scattering was constructed and detailed mathematical derivations presented to solve for the relevant instrument parameters, which were then used to convert two-dimensional small angle X-ray scattering data to standard curves. The method is valid regardless whether the detector photosensitive plane is perpendicular or tilted with respect to the beam. Small angle X-ray scattering was performed using standard calibration samples to validate the methodology.
类目[WOS]Chemistry, Analytical ; Instruments & Instrumentation
关键词[WOS]POWDER DIFFRACTION ; DETECTOR ; SYSTEM
语种英语
WOS记录号WOS:000379603200007
引用统计
被引频次:3[WOS]   [WOS记录]     [WOS相关记录]
文献类型期刊论文
条目标识符http://ir.ihep.ac.cn/handle/311005/260254
专题中国科学院高能物理研究所_多学科研究中心_期刊论文
作者单位中国科学院高能物理研究所
推荐引用方式
GB/T 7714
Wei YR,Li ZH,Wei, YR,et al. Calibration of instrument and sample parameters for small angle X-ray scattering[J]. INSTRUMENTATION SCIENCE & TECHNOLOGY,2016,44(5):521-536.
APA 魏彦茹,李志宏,Wei, YR,&Li, ZH.(2016).Calibration of instrument and sample parameters for small angle X-ray scattering.INSTRUMENTATION SCIENCE & TECHNOLOGY,44(5),521-536.
MLA 魏彦茹,et al."Calibration of instrument and sample parameters for small angle X-ray scattering".INSTRUMENTATION SCIENCE & TECHNOLOGY 44.5(2016):521-536.
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