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A THz Driven Transverse Deflector for Femtosecond Longitudinal Profile Diagnostics
S.P.Jamison; E.W.Snedden; D.A.Walsh
2016
会议名称Proceedings of the 5th International Beam Instrumentation Conference ; Proceedings of the 5th International Beam Instrumentation Conference
会议日期2016
会议地点Barcelona
会议名称Proceedings of the 5th International Beam Instrumentation Conference ; Proceedings of the 5th International Beam Instrumentation Conference
文献类型会议论文
条目标识符http://ir.ihep.ac.cn/handle/311005/258894
专题学术会议_国际参会_JaCoW高能所参会会议_IBIC
作者单位STFC/DL/ASTeC, Daresbury, Warrington, Cheshire, United Kingdom
推荐引用方式
GB/T 7714
S.P.Jamison,E.W.Snedden,D.A.Walsh. A THz Driven Transverse Deflector for Femtosecond Longitudinal Profile Diagnostics[C],2016.
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