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Blip Scanning System Power Supply Control
Z.Altinbas; R.F.Lambiase; C.Theisen
2016
会议(录)名称Proceedings of the 5th International Beam Instrumentation Conference
会议日期2016
会议地点Barcelona
文献类型会议论文
条目标识符http://ir.ihep.ac.cn/handle/311005/258807
专题学术会议_国际参会_JaCoW高能所参会会议_IBIC
作者单位BNL, Upton, Long Island, New York, USA
推荐引用方式
GB/T 7714
Z.Altinbas,R.F.Lambiase,C.Theisen. Blip Scanning System Power Supply Control[C],2016.
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