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Electron Beam Diagnostics Using Diffraction Radiation 
Bibo Feng; William E. Gabella
2004
会议名称Proceedings of the 2004 FEL Conference 1 ; Proceedings of the 2004 FEL Conference 1
会议日期2004
会议地点Italy
会议名称Proceedings of the 2004 FEL Conference 1 ; Proceedings of the 2004 FEL Conference 1
文献类型会议论文
条目标识符http://ir.ihep.ac.cn/handle/311005/255770
专题学术会议_国际参会_JaCoW高能所参会会议_FEL
作者单位FEL Center, Vanderbilt University, Nashville, TN
推荐引用方式
GB/T 7714
Bibo Feng,William E. Gabella. Electron Beam Diagnostics Using Diffraction Radiation [C],2004.
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