IHEP OpenIR  > 学术会议  > 国际参会  > JaCoW高能所参会会议  > APAC
EXPERIMENTAL STUDY ON SINGLE EVENT EFFECTS IN SEMICONDUCTOR DEVICES USING ACCELERATORS
HE Chao-hui; YANG Hai-liang; GENG Bin; CHEN Xiao-hua; ZHANG Zheng-xuan; LI Guo-zheng
2001
会议名称APAC'01 Contributions to the Proceedings ; APAC'01 Contributions to the Proceedings
会议日期2001
会议地点Beijing, China
会议名称APAC'01 Contributions to the Proceedings ; APAC'01 Contributions to the Proceedings
文献类型会议论文
条目标识符http://ir.ihep.ac.cn/handle/311005/254727
专题学术会议_国际参会_JaCoW高能所参会会议_APAC
作者单位Northwest Institute of Nuclear Technology, P.O.Box 69-13, Xi,an, 710024, China
推荐引用方式
GB/T 7714
HE Chao-hui,YANG Hai-liang,GENG Bin,et al. EXPERIMENTAL STUDY ON SINGLE EVENT EFFECTS IN SEMICONDUCTOR DEVICES USING ACCELERATORS[C],2001.
条目包含的文件
文件名称/大小 文献类型 版本类型 开放类型 使用许可
wep081.pdf(143KB)会议论文 开放获取CC BY-NC-SA浏览 请求全文
个性服务
推荐该条目
保存到收藏夹
查看访问统计
导出为Endnote文件
谷歌学术
谷歌学术中相似的文章
[HE Chao-hui]的文章
[YANG Hai-liang]的文章
[GENG Bin]的文章
百度学术
百度学术中相似的文章
[HE Chao-hui]的文章
[YANG Hai-liang]的文章
[GENG Bin]的文章
必应学术
必应学术中相似的文章
[HE Chao-hui]的文章
[YANG Hai-liang]的文章
[GENG Bin]的文章
相关权益政策
暂无数据
收藏/分享
文件名: wep081.pdf
格式: Adobe PDF
所有评论 (0)
暂无评论
 

除非特别说明,本系统中所有内容都受版权保护,并保留所有权利。