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DATA ACQUISITION AND CONTROL SYSTEM FOR SAMSUNG SUPERCONDUCTOR TEST FACILITY
H. Choi; S. Baang; S. H. Baek; Y. B. Chang; J. H. Kim; J. S. Kim; K. Kim; M. K. Kim; S. B. Kim
1999
会议(录)名称Proceedings of the 7th International Conference on Accelerator & Large Experimental Physics Control Systems
会议日期1999
会议地点Italy
文献类型会议论文
条目标识符http://ir.ihep.ac.cn/handle/311005/248525
专题学术会议_国际参会_JaCoW高能所参会会议_ICALEPCS
作者单位Institute of Technology, Taejon, Korea, J. Yee, Eulji Medical College, Taejon, Korea
推荐引用方式
GB/T 7714
H. Choi,S. Baang,S. H. Baek,et al. DATA ACQUISITION AND CONTROL SYSTEM FOR SAMSUNG SUPERCONDUCTOR TEST FACILITY[C],1999.
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