Charge collection studies in irradiated HV-CMOS particle detectors
CMOS Collaboration
刊名JOURNAL OF INSTRUMENTATION
2016
卷号11
DOI10.1088/1748-0221/11/04/P04007
语种英语
WOS记录号WOS:000375746400026
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被引频次:6[WOS]   [WOS记录]     [WOS相关记录]
文献类型期刊论文
条目标识符http://ir.ihep.ac.cn/handle/311005/248201
专题中国科学院高能物理研究所_加速器中心_期刊论文
推荐引用方式
GB/T 7714
CMOS Collaboration. Charge collection studies in irradiated HV-CMOS particle detectors[J]. JOURNAL OF INSTRUMENTATION,2016,11.
APA CMOS Collaboration.(2016).Charge collection studies in irradiated HV-CMOS particle detectors.JOURNAL OF INSTRUMENTATION,11.
MLA CMOS Collaboration."Charge collection studies in irradiated HV-CMOS particle detectors".JOURNAL OF INSTRUMENTATION 11(2016).
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