Measurement of core level and band offsets at the interface of ITO/Hg3In2Te6(110) heterojunction by synchrotron radiation photoelectron spectroscopy
Li, YP; Fu, L; Sun, J; Ibrahim, K; Wang, JO; Kui RX(奎热西); Wang JO(王嘉欧)
刊名JOURNAL OF ELECTRON SPECTROSCOPY AND RELATED PHENOMENA
2016
卷号207
DOI10.1016/j.elspec.2015.11.017
语种英语
WOS记录号WOS:000371940400005
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文献类型期刊论文
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专题中国科学院高能物理研究所_多学科研究中心_期刊论文
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Li, YP,Fu, L,Sun, J,et al. Measurement of core level and band offsets at the interface of ITO/Hg3In2Te6(110) heterojunction by synchrotron radiation photoelectron spectroscopy[J]. JOURNAL OF ELECTRON SPECTROSCOPY AND RELATED PHENOMENA,2016,207.
APA Li, YP.,Fu, L.,Sun, J.,Ibrahim, K.,Wang, JO.,...&王嘉欧.(2016).Measurement of core level and band offsets at the interface of ITO/Hg3In2Te6(110) heterojunction by synchrotron radiation photoelectron spectroscopy.JOURNAL OF ELECTRON SPECTROSCOPY AND RELATED PHENOMENA,207.
MLA Li, YP,et al."Measurement of core level and band offsets at the interface of ITO/Hg3In2Te6(110) heterojunction by synchrotron radiation photoelectron spectroscopy".JOURNAL OF ELECTRON SPECTROSCOPY AND RELATED PHENOMENA 207(2016).
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