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Study on Niobium Scratch and Tantalum or Carbonaceous Contamination at Niobium Surface with Field Emission Scanner
S.Kato; H.Hayano; T.Kubo; T.Noguchi; T.Saeki; M.Sawabe
会议名称International Conference on RF Superconductivity 2013 16th ; International Conference on RF Superconductivity 2013 16th
2013
会议名称International Conference on RF Superconductivity 2013 16th ; International Conference on RF Superconductivity 2013 16th
会议日期2013
会议地点Paris
文献类型会议论文
条目标识符http://ir.ihep.ac.cn/handle/311005/243906
专题学术会议_国际参会_JaCoW高能所参会会议_SRF
作者单位KEK, Ibaraki, Japan
推荐引用方式
GB/T 7714
S.Kato,H.Hayano,T.Kubo,et al. Study on Niobium Scratch and Tantalum or Carbonaceous Contamination at Niobium Surface with Field Emission Scanner[C],2013.
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