IHEP OpenIR  > 学术会议  > 国际参会  > JaCoW高能所参会会议  > NA-PAC
PROPOSED SCATTERED ELECTRON DETECTOR SYSTEM AS ONE OF THE BEAM OVERLAP DIAGNOSTIC TOOLS FOR THE NEW RHIC ELECTRON LENS
P. Thieberger; E.N. Beebe; C. Chasman; W. Fischer; D.M. Gassner; X. Gu; R.C. Gupta; J. Hock; R.F. Lambiase; Y. Luo; M.G. Minty; C. Montag; M. Okamura; A.I. Pikin; Y. Tan; J.E. Tuozzolo; W. Zhang
2011
会议(录)名称Proceedings of 2011 Particle Accelerator Conference, New York, NY, USA
页码489--491
会议日期2011
会议地点New York
文献类型会议论文
条目标识符http://ir.ihep.ac.cn/handle/311005/242917
专题学术会议_国际参会_JaCoW高能所参会会议_NA-PAC
作者单位BNL, Upton, Long Island, New York, USA
推荐引用方式
GB/T 7714
P. Thieberger,E.N. Beebe,C. Chasman,et al. PROPOSED SCATTERED ELECTRON DETECTOR SYSTEM AS ONE OF THE BEAM OVERLAP DIAGNOSTIC TOOLS FOR THE NEW RHIC ELECTRON LENS[C],2011:489--491.
条目包含的文件
文件名称/大小 文献类型 版本类型 开放类型 使用许可
mop209.pdf(420KB)会议论文 限制开放CC BY-NC-SA请求全文
个性服务
推荐该条目
保存到收藏夹
查看访问统计
导出为Endnote文件
谷歌学术
谷歌学术中相似的文章
[P. Thieberger]的文章
[E.N. Beebe]的文章
[C. Chasman]的文章
百度学术
百度学术中相似的文章
[P. Thieberger]的文章
[E.N. Beebe]的文章
[C. Chasman]的文章
必应学术
必应学术中相似的文章
[P. Thieberger]的文章
[E.N. Beebe]的文章
[C. Chasman]的文章
相关权益政策
暂无数据
收藏/分享
所有评论 (0)
暂无评论
 

除非特别说明,本系统中所有内容都受版权保护,并保留所有权利。