Hardness ratio estimation in low counting X-ray photometry
Jin, YK; Zhang SN(张双南); Zhang, SN; Wu, JF
刊名ASTROPHYSICAL JOURNAL
2006
卷号653期号:2页码:1566-1570
关键词methods : statistical X-rays : general X-rays : ISM
学科分类Astronomy & Astrophysics
DOI10.1086/508677
通讯作者Tsing Hua Univ, Dept Engn Phys, Beijing 100084, Peoples R China ; Tsing Hua Univ, Ctr Astrophys, Beijing 100084, Peoples R China ; Tsing Hua Univ, Dept Phys, Beijing 100084, Peoples R China ; Chinese Acad Sci, Inst High Energy Phys, Key Lab Particle Astrophys, Beijing 100049, Peoples R China
文章类型Article
英文摘要Hardness ratios are commonly used in X-ray photometry to roughly indicate spectral properties. They are usually defined as the ratio of counts in two different wave bands. This definition, however, is problematic when the counts are very limited. Here we instead define the hardness ratio using the lambda-parameter of Poisson processes and develop an estimation method via Bayesian statistics. Our Monte Carlo simulations show the validity of our method. Based on this new definition we can estimate the hydrogen column density for the photoelectric absorption of X-ray spectra in the case of low counting statistics.
类目[WOS]Astronomy & Astrophysics
研究领域[WOS]Astronomy & Astrophysics
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语种英语
WOS记录号WOS:000242955200064
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被引频次:5[WOS]   [WOS记录]     [WOS相关记录]
文献类型期刊论文
条目标识符http://ir.ihep.ac.cn/handle/311005/239416
专题中国科学院高能物理研究所_粒子天体物理中心_期刊论文
作者单位中国科学院高能物理研究所
推荐引用方式
GB/T 7714
Jin, YK,Zhang SN,Zhang, SN,et al. Hardness ratio estimation in low counting X-ray photometry[J]. ASTROPHYSICAL JOURNAL,2006,653(2):1566-1570.
APA Jin, YK,张双南,Zhang, SN,&Wu, JF.(2006).Hardness ratio estimation in low counting X-ray photometry.ASTROPHYSICAL JOURNAL,653(2),1566-1570.
MLA Jin, YK,et al."Hardness ratio estimation in low counting X-ray photometry".ASTROPHYSICAL JOURNAL 653.2(2006):1566-1570.
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