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Synchrotron radiation study on structure of Sb delta-doped Si
Xiu LS(修立松); Jiang XM(姜晓明); Zheng WL(郑文莉); Xiu, LS; Jiang, XM; Zheng, WL; Lu, XK; Jiang, ZM; Zhang, XJ; Wang, X
1996
发表期刊CHINESE SCIENCE BULLETIN
卷号41期号:7页码:559-562
文章类型Article
关键词X-ray diffraction synchrotron radiation application delta-doped silicon
学科领域Science & Technology - Other Topics
研究领域[WOS]Science & Technology - Other Topics ; Science & Technology - Other Topics
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语种英语
研究领域[WOS]Science & Technology - Other Topics ; Science & Technology - Other Topics
WOS类目Multidisciplinary Sciences
WOS记录号WOS:A1996UH89900009
引用统计
被引频次:3[WOS]   [WOS记录]     [WOS相关记录]
文献类型期刊论文
条目标识符http://ir.ihep.ac.cn/handle/311005/237955
专题多学科研究中心
中国科学院高能物理研究所_人力资源处
中国科学院高能物理研究所_中国散裂中子源
作者单位中国科学院高能物理研究所
推荐引用方式
GB/T 7714
Xiu LS,Jiang XM,Zheng WL,et al. Synchrotron radiation study on structure of Sb delta-doped Si[J]. CHINESE SCIENCE BULLETIN,1996,41(7):559-562.
APA 修立松.,姜晓明.,郑文莉.,Xiu, LS.,Jiang, XM.,...&Wang, X.(1996).Synchrotron radiation study on structure of Sb delta-doped Si.CHINESE SCIENCE BULLETIN,41(7),559-562.
MLA 修立松,et al."Synchrotron radiation study on structure of Sb delta-doped Si".CHINESE SCIENCE BULLETIN 41.7(1996):559-562.
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