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Study of Low Temperature Baking Effect on Field Emission on Nb Samples Treated by BEP, EP, and BCP
A.T.Wu; R.C.Ike; S.Jin; R.A.Rimmer
2010
会议名称Proceedings of the first International Particle Accelerator Conference (IPAC 2010) ; Proceedings of the first International Particle Accelerator Conference (IPAC 2010) ; Proceedings of the first International Particle Accelerator Conference (IPAC 2010) ; Proceedings of the first International Particle Accelerator Conference (IPAC 2010)
会议日期2010
会议地点Japan
会议名称Proceedings of the first International Particle Accelerator Conference (IPAC 2010) ; Proceedings of the first International Particle Accelerator Conference (IPAC 2010) ; Proceedings of the first International Particle Accelerator Conference (IPAC 2010) ; Proceedings of the first International Particle Accelerator Conference (IPAC 2010)
文献类型会议论文
条目标识符http://ir.ihep.ac.cn/handle/311005/231573
专题学术会议_国际参会_JaCoW高能所参会会议_IPAC
作者单位JLAB, Newport News, Virginia
推荐引用方式
GB/T 7714
A.T.Wu,R.C.Ike,S.Jin,et al. Study of Low Temperature Baking Effect on Field Emission on Nb Samples Treated by BEP, EP, and BCP[C],2010.
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