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Microstructural characterization of YBa2Cu3O7-x thin films grown on Y-ZrO2
Liu, CX; Chen, XM; Wang, Y; Xu, M; Luo, GM; Mai, ZH; Tang, WH; Gao, J; Jia, QJ; Zheng, WL; Chen, ZJ; Jia QJ(贾全杰); Zheng WL(郑文莉); Chen ZJ(陈中军)
2003
发表期刊THIN SOLID FILMS
卷号437期号:1-2页码:#REF!
通讯作者Liu, CX (reprint author), Chinese Acad Sci, Inst Phys, POB 603, Beijing 100080, Peoples R China.
摘要By using Eu2CuO4 (ECO) as a buffer layer, extremely smooth surface YBa2Cu3O7-x (YBCO) thin film on yttrium stabilized ZrO2 substrates was obtained. The microstructure of YBCO thin films with or without ECO buffer layer were studied by atomic force microscopy, scanning electron microscopy and X-ray techniques. It was found that the epitaxy and crystallinity and surface of the YBCO thin films have been significantly enhanced with ECO buffer layer. (C) 2003 Elsevier Science B.V All rights reserved.
文章类型Article
关键词YBCO thin films microstructure SEM AFM
学科领域Materials Science; Physics
DOI10.1016/S0040-6090(03)00589-3
收录类别SCI
WOS类目Materials Science, Multidisciplinary ; Materials Science, Coatings & Films ; Physics, Applied ; Physics, Condensed Matter
WOS记录号WOS:000184367600040
引用统计
被引频次:3[WOS]   [WOS记录]     [WOS相关记录]
文献类型期刊论文
条目标识符http://ir.ihep.ac.cn/handle/311005/227326
专题多学科研究中心
中国科学院高能物理研究所_人力资源处
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GB/T 7714
Liu, CX,Chen, XM,Wang, Y,et al. Microstructural characterization of YBa2Cu3O7-x thin films grown on Y-ZrO2[J]. THIN SOLID FILMS,2003,437(1-2):#REF!.
APA Liu, CX.,Chen, XM.,Wang, Y.,Xu, M.,Luo, GM.,...&陈中军.(2003).Microstructural characterization of YBa2Cu3O7-x thin films grown on Y-ZrO2.THIN SOLID FILMS,437(1-2),#REF!.
MLA Liu, CX,et al."Microstructural characterization of YBa2Cu3O7-x thin films grown on Y-ZrO2".THIN SOLID FILMS 437.1-2(2003):#REF!.
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