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Electro-optical sampling non-synchronous delay scanning measurement of electron beam bunch length at BFEL
Sun DR(孙大睿); Xu JQ(徐金强); Chen SY(陈森玉); Sun, DR; Xu, JQ; Chen, SY
刊名CHINESE PHYSICS C
2010
卷号34期号:2页码:#REF!
关键词electro-optical sampling measurement of electron beam bunch length non-synchronous delay scanning technique
学科分类Physics
通讯作者Sun, DR (reprint author), CAS, Inst High Energy Phys, Beijing 100049, Peoples R China.
文章类型Article
英文摘要The Electro-optical sampling delay scanning technique can be used for electron beam bunch length measurement. A novel non-synchronous delay scanning technique based on the electro-optical sampling measurements is presented. Based on Beijing Free Electron Laser (BFEL), the electron beam bunch length was measured with the electro-optical sampling technique for the first time in China. The result shows that the electron beam bunch length at BFEL is about 5.6 +/- 1.2 ps.
类目[WOS]Physics, Nuclear ; Physics, Particles & Fields
收录类别SCI
WOS记录号WOS:000274309200014
引用统计
文献类型期刊论文
条目标识符http://ir.ihep.ac.cn/handle/311005/227062
专题院士_期刊论文
中国科学院高能物理研究所_多学科研究中心
中国科学院高能物理研究所_所办公室
推荐引用方式
GB/T 7714
Sun DR,Xu JQ,Chen SY,et al. Electro-optical sampling non-synchronous delay scanning measurement of electron beam bunch length at BFEL[J]. CHINESE PHYSICS C,2010,34(2):#REF!.
APA 孙大睿,徐金强,陈森玉,Sun, DR,Xu, JQ,&Chen, SY.(2010).Electro-optical sampling non-synchronous delay scanning measurement of electron beam bunch length at BFEL.CHINESE PHYSICS C,34(2),#REF!.
MLA 孙大睿,et al."Electro-optical sampling non-synchronous delay scanning measurement of electron beam bunch length at BFEL".CHINESE PHYSICS C 34.2(2010):#REF!.
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