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Evaluation of average wall thickness of organically modified mesoporous silica
Gong, YJ; Li ZH(李志宏); Dong BZ(董宝中); Li, ZH; Dong, BZ
2005
发表期刊CHINESE CHEMICAL LETTERS
卷号16期号:1页码:#REF!
通讯作者Gong, YJ (reprint author), Tai Yuan Normal Coll, Dept Chem, Taiyuan 030012, Peoples R China.
摘要The small angle X-ray scattering of Organically modified MSU-X silica prepared by co-condensation of tetraethoxysilane (TEOS). and methyltriethoxysilane (MTES) show negative deviation from Debye's theory due to the existence of the organic interface layer. By exerting correction of the scattering negative deviation, Debye relation may be recovered, and the average wall thickness of the material may be evaluated.
文章类型Article
关键词organically modified mesoporous silica average wall thickness small angle X-ray scattering (SAXS)
学科领域Chemistry
收录类别SCI
WOS类目Chemistry, Multidisciplinary
WOS记录号WOS:000227417600039
引用统计
被引频次:1[WOS]   [WOS记录]     [WOS相关记录]
文献类型期刊论文
条目标识符http://ir.ihep.ac.cn/handle/311005/226435
专题多学科研究中心
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GB/T 7714
Gong, YJ,Li ZH,Dong BZ,et al. Evaluation of average wall thickness of organically modified mesoporous silica[J]. CHINESE CHEMICAL LETTERS,2005,16(1):#REF!.
APA Gong, YJ,李志宏,董宝中,Li, ZH,&Dong, BZ.(2005).Evaluation of average wall thickness of organically modified mesoporous silica.CHINESE CHEMICAL LETTERS,16(1),#REF!.
MLA Gong, YJ,et al."Evaluation of average wall thickness of organically modified mesoporous silica".CHINESE CHEMICAL LETTERS 16.1(2005):#REF!.
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