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小角X射线散射方法测定二氧化硅干凝胶的比表面
李志宏; 孙继红; 吴东; 孙予罕; 柳义; 生文君; 董宝中
2000
发表期刊科学通报
期号7页码:706-710
其他摘要应用同步辐射小角X射线散射方法测试了不同制备条件下二氧化硅干凝胶的孔隙结构,发现了散射曲线对Porod定理和Debye散射理论的遵守与偏离(正偏离和负偏离)的各种情况.在遵守Porod定理和Debye散射理论的情况下,Porod方法和Debye方法所得的比表面比较接近.在偏离Porod定理和Debye散射理论的情况下,提出了相应的比表面计算方法,所得结果同样取得了较好的一致性.
关键词小角X射线散射 二氧化硅干凝胶 比表面 测定
文献类型期刊论文
条目标识符http://ir.ihep.ac.cn/handle/311005/223196
专题多学科研究中心
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GB/T 7714
李志宏,孙继红,吴东,等. 小角X射线散射方法测定二氧化硅干凝胶的比表面[J]. 科学通报,2000(7):706-710.
APA 李志宏.,孙继红.,吴东.,孙予罕.,柳义.,...&董宝中.(2000).小角X射线散射方法测定二氧化硅干凝胶的比表面.科学通报(7),706-710.
MLA 李志宏,et al."小角X射线散射方法测定二氧化硅干凝胶的比表面".科学通报 .7(2000):706-710.
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