同步辐射异常散射研究超薄金属多层膜
罗光明; 刘翠秀; 王勇; 王俊; 吴忠华; 丁永凡
刊名高能物理与核物理
2001
期号S1页码:90-95
关键词同步辐射 异常散射 金属薄膜
其他题名STRUCTURAL ANALYSIS OF ULTRA-THIN METALLIC MULTILAYERS BY X-RAY ANOMALOUS SCATTERING TECHNIQUE ON SYNCHROTRON RADIATION
中文摘要近些年来,巨磁电阻金属多层膜由于其在信息存储和其它传感器方面的应用而广受关注.但是,由于金属多层膜中每层厚度都很薄,界面及层内微结构研究很困难.本文介绍利用同步辐射异常散射技术和反射技术相结合,研究超薄金属多层膜中元素分布的原理,及其在不同系统中的应用.
文献类型期刊论文
条目标识符http://ir.ihep.ac.cn/handle/311005/223187
专题中国科学院高能物理研究所_多学科研究中心_期刊论文
中国科学院高能物理研究所_多学科研究中心
推荐引用方式
GB/T 7714
罗光明,刘翠秀,王勇,等. 同步辐射异常散射研究超薄金属多层膜[J]. 高能物理与核物理,2001(S1):90-95.
APA 罗光明,刘翠秀,王勇,王俊,吴忠华,&丁永凡.(2001).同步辐射异常散射研究超薄金属多层膜.高能物理与核物理(S1),90-95.
MLA 罗光明,et al."同步辐射异常散射研究超薄金属多层膜".高能物理与核物理 .S1(2001):90-95.
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