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X射线探测元件在1750~3500eV能区的标定
其他题名Calibration of X-ray detector at 1750~3500eV energy range
易荣清; 宋天明; 赵屹东; 郑雷; 马陈燕
2013
发表期刊核聚变与等离子体物理
期号4页码:320-323
其他摘要在北京同步辐射装置的4B7A X射线束线上,利用InTe双晶体替换单晶硅晶体分光,获得了1750eV~3500eV能区的单色X射线,光源的能量分辨达到5000,光源强度达到1010phs·s 1,高次谐波小于0.1%,填补了国内X射线标定源这段能区的空白。利用这段能区X射线开展了X射线探测元件灵敏度标定方法研究,给出了XRD探测器灵敏度的不确定度小于3%。
关键词同步辐射 X射线 标定 不确定度
文献类型期刊论文
条目标识符http://ir.ihep.ac.cn/handle/311005/223050
专题多学科研究中心
推荐引用方式
GB/T 7714
易荣清,宋天明,赵屹东,等. X射线探测元件在1750~3500eV能区的标定[J]. 核聚变与等离子体物理,2013(4):320-323.
APA 易荣清,宋天明,赵屹东,郑雷,&马陈燕.(2013).X射线探测元件在1750~3500eV能区的标定.核聚变与等离子体物理(4),320-323.
MLA 易荣清,et al."X射线探测元件在1750~3500eV能区的标定".核聚变与等离子体物理 .4(2013):320-323.
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