利用小角X射线散射技术研究组分对聚酰亚胺/Al_2O_3杂化薄膜界面特性与分形特征的影响
刘晓旭; 殷景华; 程伟东; 卜文斌; 范勇; 吴忠华
刊名物理学报
2011
期号5页码:517-522
关键词小角X射线散射 纳米杂化 聚酰亚胺 界面
其他题名Research on interface and fractal characteristics of PI /Al2 O3 Films by SAXS
中文摘要采用溶胶-凝胶方法制备无机纳米杂化聚酰亚胺(PI),应用同步辐射小角X射线散射(SAXS)方法研究不同组分杂化PI薄膜的界面特性与分形特征.研究结果表明散射曲线不遵守Porod定理,形成负偏离,说明薄膜中有机相与Al2O3纳米颗粒间存在界面层,界面层厚度在0.54nm到1.48nm范围内;随无机纳米组分增加,界面层厚度增加,有机相与无机相作用变强;无机纳米颗粒同时具有质量分形和表面分形特征,其分布、集结是一种非线性动力学过程;随组分增加,其质量分形维数降低,表面分形维数升高,即纳米颗粒结构变疏松、质量分布变得不均匀,有机高分子链对无机纳米颗粒锚定作用加强且锚点数增加,表面变得更加粗糙.最后,利...
项目资助者国家自然科学基金(批准号:50677009,51077028) ; 黑龙江省自然科学基金(批准号:A201006)资助的课题~~
文献类型期刊论文
条目标识符http://ir.ihep.ac.cn/handle/311005/222912
专题中国科学院高能物理研究所_多学科研究中心_期刊论文
推荐引用方式
GB/T 7714
刘晓旭,殷景华,程伟东,等. 利用小角X射线散射技术研究组分对聚酰亚胺/Al_2O_3杂化薄膜界面特性与分形特征的影响[J]. 物理学报,2011(5):517-522.
APA 刘晓旭,殷景华,程伟东,卜文斌,范勇,&吴忠华.(2011).利用小角X射线散射技术研究组分对聚酰亚胺/Al_2O_3杂化薄膜界面特性与分形特征的影响.物理学报(5),517-522.
MLA 刘晓旭,et al."利用小角X射线散射技术研究组分对聚酰亚胺/Al_2O_3杂化薄膜界面特性与分形特征的影响".物理学报 .5(2011):517-522.
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