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同步辐射光源截面测量用闪烁体的点扩散函数测定
其他题名Determination of scintillator PSF for measuring source transverse sizes of synchrotron radiations
于滢潆; 李明
2011
发表期刊核技术
期号6页码:423-426
通讯作者于滢潆
其他摘要在同步辐射光源截面测量的小孔成像系统中,要用闪烁体将X光转换成可见光,并在CCD上接收和成像。闪烁体会将投影在其上的点源扩大为一个弥散斑,即影响成像系统空间分辨率因素之一的闪烁体点扩散函数。利用刀口测定闪烁体对X光的边扩散函数来确定其点扩散函数,结合图像背景的扣除与沿刀口方向的边扩散函数的算术平均等处理方法,分别测定了100μm和200μm厚硅酸钇镥、200μm厚氟化钡,以及3 mm厚钨酸镉闪烁体的点扩散函数的FWHM,以此作为北京同步辐射光源截面测量小孔成像系统中所选择的闪烁体的设计依据。
关键词点扩散函数 闪烁体 X光成像系统
文献类型期刊论文
条目标识符http://ir.ihep.ac.cn/handle/311005/222882
专题多学科研究中心
粒子天体物理中心
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GB/T 7714
于滢潆,李明. 同步辐射光源截面测量用闪烁体的点扩散函数测定[J]. 核技术,2011(6):423-426.
APA 于滢潆,&李明.(2011).同步辐射光源截面测量用闪烁体的点扩散函数测定.核技术(6),423-426.
MLA 于滢潆,et al."同步辐射光源截面测量用闪烁体的点扩散函数测定".核技术 .6(2011):423-426.
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