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降感环三甲撑三硝胺微缺陷小角X射线散射研究
其他题名Microstructure analysis of D-RDX by small angle X-ray scattering
闫冠云; 黄朝强; 夏庆中; 陈波; 黄明; 聂福德; 吴忠华
2010
发表期刊核技术
期号3页码:161-164
其他摘要应用小角X射线散射研究含能材料降感RDX微缺陷结构,给出降感RDX样品材料内部微缺陷尺寸及微缺陷数量信息,分析了降感RDX晶体在生长过程中微缺陷变化趋势。结果表明,降感RDX微缺陷数量密度随晶体粒度增加逐渐降低,微缺陷特征尺度变化较小,另外还存在部分择优取向分布特征的微缺陷,微缺陷密度呈降低趋势。
关键词小角X射线散射 降感RDX 微缺陷
文献类型期刊论文
条目标识符http://ir.ihep.ac.cn/handle/311005/222804
专题多学科研究中心
推荐引用方式
GB/T 7714
闫冠云,黄朝强,夏庆中,等. 降感环三甲撑三硝胺微缺陷小角X射线散射研究[J]. 核技术,2010(3):161-164.
APA 闫冠云.,黄朝强.,夏庆中.,陈波.,黄明.,...&吴忠华.(2010).降感环三甲撑三硝胺微缺陷小角X射线散射研究.核技术(3),161-164.
MLA 闫冠云,et al."降感环三甲撑三硝胺微缺陷小角X射线散射研究".核技术 .3(2010):161-164.
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