High resolution X-ray diffraction investigation of epitaxially grown SrTiO_3 thin films by laser-MBE
Zhai ZY(翟章印); Wu XS(吴小山); Jia QJ(贾全杰)
刊名中国物理C
2009
期号11页码:949-953
关键词laser-MBE grazing incident X-ray diffraction reciprocal space mapping
英文摘要SrTiO3 thin films are epitaxially grown on DyScO3, LaAlO3 substrates with/without buffer layers of DyScO3 and SrRuO3 using laser-MBE.X-ray diffraction methods, such as high resolution X-ray diffraction, grazing incident X-ray diffraction, and reciprocal space mapping are used to investigate the latt...
项目资助者Supported by National Natural Science Foundation of China (10774065) ; Science Foundation for Excellent Youth Scholars of Huaiyin Normal University (08QNZCK 005)
文献类型期刊论文
条目标识符http://ir.ihep.ac.cn/handle/311005/222757
专题中国科学院高能物理研究所_多学科研究中心_期刊论文
推荐引用方式
GB/T 7714
Zhai ZY,Wu XS,Jia QJ. High resolution X-ray diffraction investigation of epitaxially grown SrTiO_3 thin films by laser-MBE[J]. 中国物理C,2009(11):949-953.
APA 翟章印,吴小山,&贾全杰.(2009).High resolution X-ray diffraction investigation of epitaxially grown SrTiO_3 thin films by laser-MBE.中国物理C(11),949-953.
MLA 翟章印,et al."High resolution X-ray diffraction investigation of epitaxially grown SrTiO_3 thin films by laser-MBE".中国物理C .11(2009):949-953.
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