| Al_2O_3/PI薄膜纳米颗粒形态的SAXS研究 |
| 其他题名 | Nanoparticels morphology in Al2O3/PI films studied by SAXS
|
| 刘晓旭; 殷景华; 闫凯; 程伟东; 吴忠华
|
| 2009
|
| 发表期刊 | 核技术
 |
| 期号 | 12页码:901-904 |
| 其他摘要 | 聚酰亚胺(PI)/无机纳米杂化材料具有良好的电绝缘性、优异的机械性能以及高耐热等特性,广泛地应用于电气电子领域。本文利用同步辐射小角X射线散射(SAXS)技术对聚酰亚胺纳米杂化薄膜(Al2O3/PI)进行微观结构分析,结合透射电子显微镜(TEM)测试的结果,研究了杂化薄膜中无机纳米颗粒的特性。研究结果表明,无机纳米颗粒尺寸约为4–7nm,纳米颗粒与基体之间具有明锐的界面,薄膜体系分形维数为2.48。 |
| 关键词 | 小角X射线散射
纳米杂化
聚酰亚胺
分形
|
| 项目资助者 | 国家自然科学基金(50677009)资助
|
| 文献类型 | 期刊论文
|
| 条目标识符 | http://ir.ihep.ac.cn/handle/311005/222691
|
| 专题 | 多学科研究中心
|
推荐引用方式
GB/T 7714 |
刘晓旭,殷景华,闫凯,等. Al_2O_3/PI薄膜纳米颗粒形态的SAXS研究[J]. 核技术,2009(12):901-904.
|
| APA |
刘晓旭,殷景华,闫凯,程伟东,&吴忠华.(2009).Al_2O_3/PI薄膜纳米颗粒形态的SAXS研究.核技术(12),901-904.
|
| MLA |
刘晓旭,et al."Al_2O_3/PI薄膜纳米颗粒形态的SAXS研究".核技术 .12(2009):901-904.
|
|
文件名：
|
6982.pdf
|
|
格式：
|
Adobe PDF
|
此文件暂不支持浏览
除非特别说明，本系统中所有内容都受版权保护，并保留所有权利。
修改评论