Al_2O_3/PI薄膜纳米颗粒形态的SAXS研究
刘晓旭; 殷景华; 闫凯; 程伟东; 吴忠华
刊名核技术
2009
期号12页码:901-904
关键词小角X射线散射 纳米杂化 聚酰亚胺 分形
其他题名Nanoparticels morphology in Al2O3/PI films studied by SAXS
中文摘要聚酰亚胺(PI)/无机纳米杂化材料具有良好的电绝缘性、优异的机械性能以及高耐热等特性,广泛地应用于电气电子领域。本文利用同步辐射小角X射线散射(SAXS)技术对聚酰亚胺纳米杂化薄膜(Al2O3/PI)进行微观结构分析,结合透射电子显微镜(TEM)测试的结果,研究了杂化薄膜中无机纳米颗粒的特性。研究结果表明,无机纳米颗粒尺寸约为4–7nm,纳米颗粒与基体之间具有明锐的界面,薄膜体系分形维数为2.48。
项目资助者国家自然科学基金(50677009)资助
文献类型期刊论文
条目标识符http://ir.ihep.ac.cn/handle/311005/222691
专题中国科学院高能物理研究所_多学科研究中心_期刊论文
推荐引用方式
GB/T 7714
刘晓旭,殷景华,闫凯,等. Al_2O_3/PI薄膜纳米颗粒形态的SAXS研究[J]. 核技术,2009(12):901-904.
APA 刘晓旭,殷景华,闫凯,程伟东,&吴忠华.(2009).Al_2O_3/PI薄膜纳米颗粒形态的SAXS研究.核技术(12),901-904.
MLA 刘晓旭,et al."Al_2O_3/PI薄膜纳米颗粒形态的SAXS研究".核技术 .12(2009):901-904.
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