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锗硅量子点掠入射小角X射线散射研究
其他题名GeSi quantum dots studied by grazing incidence small angle X-ray scattering
王玉柱; 贾全杰; 陈雨; 薛宪营; 姜晓明; 崔健; 林健晖; 蒋最敏; 何庆
2008
发表期刊核技术
期号4页码:250-254
通讯作者王玉柱
其他摘要采用同步辐射X射线对MBE制备的锗硅量子点试样进行了掠入射小角X射线散射(GISAXS,grazing incidence small angle X-ray scattering)研究。根据AFM测量得到的量子点尺寸、形状和间距等参数,采用DWBA理论以及合适的分布函数,利用IsGISAXS程序对一维和二维GISAXS测量结果进行了模拟,模拟结果与实验数据符合很好,表明GISAXS是一种探测锗硅量子点尺寸、形状和分布等结构信息有效的方法。
关键词锗硅 量子点 掠入射小角X射线散射
项目资助者国家自然科学基金(10174081)资助
文献类型期刊论文
条目标识符http://ir.ihep.ac.cn/handle/311005/222626
专题多学科研究中心
推荐引用方式
GB/T 7714
王玉柱,贾全杰,陈雨,等. 锗硅量子点掠入射小角X射线散射研究[J]. 核技术,2008(4):250-254.
APA 王玉柱.,贾全杰.,陈雨.,薛宪营.,姜晓明.,...&何庆.(2008).锗硅量子点掠入射小角X射线散射研究.核技术(4),250-254.
MLA 王玉柱,et al."锗硅量子点掠入射小角X射线散射研究".核技术 .4(2008):250-254.
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