红绿彩瓷化妆土的线扫描分析
杨益民; 汪丽华; 朱剑; 王昌燧; 阎焰; 陈栋梁; 何伟; 黄宇营; 华巍; 徐伟
刊名核技术
2008
期号9页码:653-657
关键词SRXRF 红绿彩瓷 化妆土 线扫描分析
其他题名Line scan micro XRF analysis of engobe of whiteware painted with red, green and yellow patterns
中文摘要采用同步辐射X射线荧光分析方法(SRXRF),对宋金时期红绿彩瓷的断面进行线扫描分析,发现在釉和化妆土以及化妆土和胎的交界处,均存在明显的过渡层。不同元素在两个过渡层的变化规律不完全一致,与釉、化妆土及胎的原料密切相关,据此可判断瓷器是否施加过化妆土。化妆土中Fe、Ti含量明显低于胎,有利于提高瓷釉的白度和质量。结合岩相分析发现化妆土中富含云母类矿物,这将加强白色反射效果。该类化妆土在已往的白瓷化妆土中均未见报道,值得进一步研究。
项目资助者中国科学院研究生院人才基金 ; 中国科学院研究生院院长基金项目(O65001L) ; 国家文物局文物保护科学和技术研究课题(20070116) ; 中国科学院知识创新方向性项目(KJCX3.SYW.N12)资助
文献类型期刊论文
条目标识符http://ir.ihep.ac.cn/handle/311005/222620
专题中国科学院高能物理研究所_多学科研究中心_期刊论文
中国科学院高能物理研究所_多学科研究中心
推荐引用方式
GB/T 7714
杨益民,汪丽华,朱剑,等. 红绿彩瓷化妆土的线扫描分析[J]. 核技术,2008(9):653-657.
APA 杨益民.,汪丽华.,朱剑.,王昌燧.,阎焰.,...&徐伟.(2008).红绿彩瓷化妆土的线扫描分析.核技术(9),653-657.
MLA 杨益民,et al."红绿彩瓷化妆土的线扫描分析".核技术 .9(2008):653-657.
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