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应用同步辐射白光形貌术研究Nd:SGG晶体的缺陷
其他题名INVESTIGATIONS ON DEFECS OF Nd: SGG LASER CRYSTAL BY USING SYNCHROTRON RADIATION WHITE-BEAM TOPOGRAPHY METHOD
丁嘉瑄; 徐家跃; 肖敬忠; 田玉莲; 朱佩平; 袁清习
2004
发表期刊核技术
期号7页码:481-484
其他摘要应用同步辐射X射线形貌术对坩埚下降法生长的Nd:SGG晶体的缺陷进行了研究。观察到该晶体中存在较为明显的镶嵌结构晶界缺陷和位错缺陷,并分析了上述缺陷的形成原因。对提高Nd:SGG晶体质量、改进生长工艺具有一定的参考价值。
关键词Nd:SGG激光晶体 同步辐射白光形貌术 晶体缺陷
文献类型期刊论文
条目标识符http://ir.ihep.ac.cn/handle/311005/222169
专题多学科研究中心
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GB/T 7714
丁嘉瑄,徐家跃,肖敬忠,等. 应用同步辐射白光形貌术研究Nd:SGG晶体的缺陷[J]. 核技术,2004(7):481-484.
APA 丁嘉瑄,徐家跃,肖敬忠,田玉莲,朱佩平,&袁清习.(2004).应用同步辐射白光形貌术研究Nd:SGG晶体的缺陷.核技术(7),481-484.
MLA 丁嘉瑄,et al."应用同步辐射白光形貌术研究Nd:SGG晶体的缺陷".核技术 .7(2004):481-484.
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