宣德官窑青花瓷的面扫描分析
杨益民; 冯敏; 朱剑; 毛振伟; 王昌燧; 黄宇营; 何伟
刊名光谱学与光谱分析
2004
期号8页码:902-906
关键词青花瓷 SRXRF 面扫描 无损检测
其他题名Plane Scan Analysis of the Surface of White and Blue Porcelain by SRXRF Method
中文摘要用SRXRF对宣德时期官窑青花瓷片上的瓷彩进行面扫描分析 ,结果表明各元素分析线的峰面积有着不同的分布模式。根据与颜色浓淡、瓷彩上黄斑的耦合关系可以将K ,Cr ,Mn ,Fe,Co ,Ni,Cu ,Zn ,Hg ,Rb ,Sr,Y和Zr等 13个元素分为 3组。它可作为各个朝代青花瓷指纹元素”的选择依据 ,并提出了研究瓷彩中黄斑的形成机制的新思路
项目资助者中国科学院创新工程 (KJCX No4) ; 国家自然科学重点基金 (1 0 1 350 50 )资助项目
文献类型期刊论文
条目标识符http://ir.ihep.ac.cn/handle/311005/222124
专题中国科学院高能物理研究所_多学科研究中心_期刊论文
推荐引用方式
GB/T 7714
杨益民,冯敏,朱剑,等. 宣德官窑青花瓷的面扫描分析[J]. 光谱学与光谱分析,2004(8):902-906.
APA 杨益民.,冯敏.,朱剑.,毛振伟.,王昌燧.,...&何伟.(2004).宣德官窑青花瓷的面扫描分析.光谱学与光谱分析(8),902-906.
MLA 杨益民,et al."宣德官窑青花瓷的面扫描分析".光谱学与光谱分析 .8(2004):902-906.
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