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宣德官窑青花瓷的面扫描分析
其他题名Plane Scan Analysis of the Surface of White and Blue Porcelain by SRXRF Method
杨益民; 冯敏; 朱剑; 毛振伟; 王昌燧; 黄宇营; 何伟
2004
发表期刊光谱学与光谱分析
期号8页码:902-906
其他摘要用SRXRF对宣德时期官窑青花瓷片上的瓷彩进行面扫描分析 ,结果表明各元素分析线的峰面积有着不同的分布模式。根据与颜色浓淡、瓷彩上黄斑的耦合关系可以将K ,Cr ,Mn ,Fe,Co ,Ni,Cu ,Zn ,Hg ,Rb ,Sr,Y和Zr等 13个元素分为 3组。它可作为各个朝代青花瓷指纹元素”的选择依据 ,并提出了研究瓷彩中黄斑的形成机制的新思路
关键词青花瓷 SRXRF 面扫描 无损检测
项目资助者中国科学院创新工程 (KJCX No4) ; 国家自然科学重点基金 (1 0 1 350 50 )资助项目
文献类型期刊论文
条目标识符http://ir.ihep.ac.cn/handle/311005/222124
专题多学科研究中心
推荐引用方式
GB/T 7714
杨益民,冯敏,朱剑,等. 宣德官窑青花瓷的面扫描分析[J]. 光谱学与光谱分析,2004(8):902-906.
APA 杨益民.,冯敏.,朱剑.,毛振伟.,王昌燧.,...&何伟.(2004).宣德官窑青花瓷的面扫描分析.光谱学与光谱分析(8),902-906.
MLA 杨益民,et al."宣德官窑青花瓷的面扫描分析".光谱学与光谱分析 .8(2004):902-906.
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