有机官能化硅基介孔分子筛的界面层表征
巩雁军; 李志宏; 董宝中
刊名核技术
2003
期号12页码:909-913
关键词介孔分子筛 有机官能化MSU-X 界面特征 SAXS表征
其他题名CHARACTERIZATION OF THE INTERFACE LAYER OF ORGANICALLY MODIFIED MESOPOROUS SILICATES
中文摘要采用X射线衍射(XRD)、透射电子显微镜(TEM)、扫描电子显微镜(SEM)、红外(IR)、核磁共振(NMR)、拉曼(Raman)光谱、热重(TG)、N_2吸附/脱附分析、元素分析等现代物理技术对有机官能化介孔材料的物相、表面组成、稳定性等织构性能进行表征。对所合成的系列有机官能化硅基MSU—X介孔材料,表征了各种有机硅氧烷由于其反应速率、空间位阻的不同,使其对硅基骨架的缩聚程度、孔道和表面所带来的性质差异。运用小角X射线散射方法(SAXS)实验技术对所合成的有机官能化介孔材料结构和表面的表征方法,揭示了有机官能化基团在介孔孔道的存在状态及在孔道表面所形成的界面特征。
项目资助者国家重点基础研究专项基金(G20000480)
文献类型期刊论文
条目标识符http://ir.ihep.ac.cn/handle/311005/222047
专题中国科学院高能物理研究所_多学科研究中心_期刊论文
推荐引用方式
GB/T 7714
巩雁军,李志宏,董宝中. 有机官能化硅基介孔分子筛的界面层表征[J]. 核技术,2003(12):909-913.
APA 巩雁军,李志宏,&董宝中.(2003).有机官能化硅基介孔分子筛的界面层表征.核技术(12),909-913.
MLA 巩雁军,et al."有机官能化硅基介孔分子筛的界面层表征".核技术 .12(2003):909-913.
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