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SXR-CT技术应用研究烧结陶瓷三维微结构拓扑形貌
其他题名Application of Synchrotron Computed Microtomography to Study 3D Pore Topology and Density Distribution in Sintered Ceramics
景晓宁; 胡小方; 赵建华; 王亚鸥; 田玉莲
2003
发表期刊材料科学与工程学报
期号3页码:327-330
其他摘要借助同步辐射硬X射线高强度 ,强穿透 ,高分辨和天然准直性的特性 ,应用卷积反投影重建算法实现CT三维重建技术 ,简称SXR CT(SynchrotronX RayComputedTomography) ,研究了氧化物陶瓷烧结体残余孔隙的三维拓扑微结构。同时量化计算了样品的孔隙率和密度 ,较好地符合实验测量数据
关键词同步辐射硬X射线 SXR-CT技术 烧结陶瓷 微结构拓扑形貌 密度分布
项目资助者国家自然科学基金资助项目 (50 0 72 0 2 5) ; 北京同步辐射装置(BSRF)资助项目
文献类型期刊论文
条目标识符http://ir.ihep.ac.cn/handle/311005/222001
专题多学科研究中心
推荐引用方式
GB/T 7714
景晓宁,胡小方,赵建华,等. SXR-CT技术应用研究烧结陶瓷三维微结构拓扑形貌[J]. 材料科学与工程学报,2003(3):327-330.
APA 景晓宁,胡小方,赵建华,王亚鸥,&田玉莲.(2003).SXR-CT技术应用研究烧结陶瓷三维微结构拓扑形貌.材料科学与工程学报(3),327-330.
MLA 景晓宁,et al."SXR-CT技术应用研究烧结陶瓷三维微结构拓扑形貌".材料科学与工程学报 .3(2003):327-330.
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